이 강의를, 듣고 나면 뭐가 달라질까요?
반도체 후공정 분야의 핵심 이론과 최신 기술 트렌드를 체계적으로 이해하는데 목표를 둡니다. EDS Test와 Final Test의 종류 및 상세 순서를 파악하고, 패키징의 목적, 구성, Wire Bonding, 범프 등 주요 공정 흐름을 익히게 됩니다. 또한 CSP, MCP, FOWLP, PoP 등 다양한 패키지 기술과 TSV, 3D IC 등 첨단 기술까지 학습하여, 반도체 테스트와 패키징 분야의 실무 전문지식을 완벽하게 구축하는 경쟁력을 확보합니다.
반도체 후공정 개요 및 테스트: 반도체 패키징의 목적과 필요성을 이해하고, EDS Test(Wafer Test)의 5단계 및 DRAM 테스트 공정을 상세히 분석합니다.
웨이퍼 테스트 공정 심화: ET, WBI, Laser Repair, Inking 공정 등 웨이퍼 수율을 높이기 위한 주요 테스트 및 리페어 과정을 학습하고 '수율' 개념을 정의합니다.
패키징 주요 공정: Dicing(Sawing), Die Attach, Wire Bonding, 범프(Bump), 몰딩(Molding), Marking 등 반도체 칩을 보호하고 연결하는 주요 패키징 공정 순서를 상세히 다룹니다.
Final Test 및 패키지 기술: Final Test(Package Test)의 개요, 핸들러/테스터/DUT card의 역할 및 순서를 이해하고, Lead Frame, CSP, MCP, FOWLP 등 다양한 패키지 기술의 특징을 분석합니다.
첨단 패키징 및 TSV: Soc/Sip, PoP 등 패키지 기술을 이해하고, TSV(Through Silicon Via) 기술의 개요, 특징, 공정 방식(Via First/Middle/Last) 및 3D IC와의 관계를 심층 학습합니다.